Atomic Force Microscope
-
atomic force afm mikroskopyo
Brand: NANBEI
Model: AFM
Atomic Force Microscope (AFM), isang analytical na instrumento na maaaring gamitin upang pag-aralan ang surface structure ng solid materials, kabilang ang mga insulator.Pinag-aaralan nito ang surface structure at mga katangian ng isang substance sa pamamagitan ng pag-detect ng napakahinang interatomic na interaksyon sa pagitan ng surface ng sample na susuriin at ng micro-force sensitive na elemento.
